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高溫烘箱在電子產品中的運用

利用高溫烘箱進行元件的可靠性篩選。對于進行維修的電子元器件，應當把他們的特性測試一遍，然后，對所有元器件都施加外應力，經過一定的時間實驗后，再把所有的特性復測一遍，以刪除不合格的元件，這一過程稱為篩選。主要方法有:高溫存儲篩選，這是一種加速器件存儲壽命實驗，把元器件放在高溫烘箱內，溫度通常在120-300℃之間，通過熱應力加速內部硅芯片表面的電化效應，使潛在的故障加速暴露，這對于引線焊接不良、氧化層缺陷、污染等都有篩選作用。功率老化篩選是將元器件放在高溫烘箱環境中，再連續加上一定的功率。經過較長時間的試驗后，再測試的篩選方法。這與實際情況比較接近，是一種有效的篩選措施，他對于溝道漏電、硅片裂紋、封裝不良等都有良好的效果。
溫度沖擊試驗是采用高低溫交替沖擊的辦法，剔除有潛在故障的元器件，在劇烈的高低溫交變作用下，元器件內各種材料的熱脹冷縮不匹配，芯片引線溫度系數不匹配等缺陷都會加速暴露出來。